FFP 5000

全自动LED覆晶点测机

Auto Flip-chip probing and testing system
 

   

■ Prober&Tester完全整合,效益大幅提升

■ 适用覆晶LED(Flip Chip LED)

■ 4吋积分球下收光设计

■ 可点测Chip Form& Wafer Form

■ 采用进口螺杆,机械刚性优,减少磨耗产生背隙

■ 优化机构设计,运动时间大幅缩短

■ 主动式针座,针痕大小一致,延长探针寿命

■ 可放置双卡匣,自动载入载出料片