FWP 6000

全自动LED晶圆点测机

Auto LED wafer probing and testing system
全自动化
搭配机器视觉定位系统，大幅提升点测效率!

      
  • Dual Cassette全自动取料放料
  • 专利自主校正功能
  • 抽测方式可多样化选择
  • 外型尺寸优化缩小，提高厂房利用率
  • 采用进口螺杆,机械刚性强,减少磨耗产生背隙
  • 主动式针座,针痕大小一致,延长探针寿命