全自动激光晶圆刻印系统
Auto laser wafer marking system |
全自动激光晶圆刻印系统专为半导体制程设计,高效率与高精度的晶圆刻印(wafer marking)技术,可提供包括英文字串、数字字串、2维码(Data Matrix/QR code)等多种刻印形式,提升产品的可追溯性与识别性。系统内建产品ID读取功能,并于刻印后(After marking)执行即时辨识,确保准确度,提升生产线的效率与可靠性。 更多机台介绍请往下浏览▼ |
- 应用产业
半导体产业
- 加工应用
晶圆刻印 Wafer marking
- 应用材料
Si晶圆
SiC、III-V:GaAs、GaN、II-VI:Lt(LiTaO₃)、Ln(LiNbO₃)晶圆、蓝宝石
■ 支援2”-4” 、4”-6” 、 6”-8”吋晶圆刻印
■ 针对产品特性选择激光波长 IR 、UV 雷射进行搭配
■ 高品质、高精度、高产出
■ 支援背面刻印
■ 刻印型式包含Semi OCR、 Semi Double、英文字串、数字字串、条码、2维码(Data Matrix/QR cord)、图形等。
■ 支援SECS GEM 通讯协议
■ 搭载集尘装置并配置粉尘隔离区,有效降低加工过程之粉尘喷溅,设备维护容易。
■ 直观的软体介面设计,操作简易。内建刻印预览功能,并支援 Cassette 异常侦测。
■ 精确的激光参数设定,结合自有光学团队技术,减少雷射产生的热效应。
*系列各设备之实际功能因配置不同而有所差异
FCM6000 Serise 机型规格比较
Items | Model | FCM 6104 | FCM 6114 | FCM 6004 | FCM 6024 |
---|---|---|---|---|---|
Laser | Type | Optical fiber | Optical fiber | DPSS | DPSS |
Wavelength | IR | IR | UV | UV | |
Wafer materials | Si/Sapphire Compound wafer | ● | ● | ● | ● |
Wafer size | 2"-4",4"-6" | ● | ● | ● | ● |
6"-8" | ● | ||||
Wafer alignment | Flat/Notch | ● | ● | ● | ● |
OCR | Before marking | ● | |||
After marking | ● | ● | ● | ||
Backside marking | ● | ||||
wafer thickness | 250μm≤T<700μm | ||||
Repeatability | ±200μm | ±200μm | ±200μm | ±100μm |
实际刻印效果
支援刻印样式 : Semi OCR、Semi Double、英文字串、数字字串、条码、2维码(Data Matrix/QR code)、图形、曲线排列
为何选择FitTech惠特科技
FitTech专注于光电相关设备研发与制造,具备领先业界的研发能力与技术,可提供客户更细致、更精密的加工品质。
惠特科技拥有专业光电技术与多年整合经验,可提供客户客制化整合,相较进口设备,惠特可提供专业且即时的服务。
惠特科技拥有专业光电技术与多年整合经验,可为客户提供定制化整合服务。相比进口设备,惠特能够提供专业且及时的服务。
Model specifications Comparison
Items | Model | FCM 6104 | FCM 6114 | FCM 6004 | FCM 6024 |
---|---|---|---|---|---|
Laser | Type | Optical fiber | Optical fiber | DPSS | DPSS |
Wavelength | IR | IR | UV | UV | |
Wafer materials | Si/Sapphire Compound wafer | ● | ● | ● | ● |
Wafer size | 2"-4",4"-6" | ● | ● | ● | ● |
6"-8" | ● | ||||
Wafer alignment | Flat/Notch | ● | ● | ● | ● |
OCR | Before marking | ● | |||
After marking | ● | ● | ● | ||
Backside marking | ● | ||||
wafer thickness | 250μm≤T<700μm | ||||
Repeatability | ±200μm | ±200μm | ±200μm | ±100μm |