■ Prober&Tester完全整合，效益大幅提升
■ 适用覆晶LED(Flip Chip LED)
■ 4吋积分球下收光设计
■ 可点测Chip Form& Wafer Form
■ 采用进口螺杆,机械刚性优,减少磨耗产生背隙
■ 优化机构设计,运动时间大幅缩短
■ 主动式针座,针痕大小一致,延长探针寿命
■ 可放置双卡匣，自动载入载出料片
