LFP 6200

覆晶型LED晶粒/晶圆点测机

LED chip & wafer probing and testing system
 

   
  • 适用于覆晶型LED(Flip Chip LED)
  • 4吋积分球上下收光设计
  • Prober & Tester完全整合
  • 可点测Chip Form& Wafer Form
  • 采用进口螺杆,机械刚性强,减少磨耗产生背隙
  • 主动式针座,针痕大小一致,延长探针寿命