APT 6000

整合型LED晶粒/晶圆点测机

LED chip & wafer probing and testing system
Prober & Tester完全整合，效益大幅提升!
积分球直接收光架构及遮光罩设计，杜绝背景光干扰 !

    
  • 采用进口螺杆,机械刚性强,减少磨耗产生背隙
  • 主动式针座,针痕大小一致,延长探针寿命
  • 录音式警报系统，可依不同状况录制不同语音警示
  • 外型尺寸优化缩小，提高厂房利用率
  • 积分球直接收光架构
  • 可点测Chip Form& Wafer Form