0
简体中文
English
繁體中文
简体中文
日本語
×
关于惠特
关于惠特
经营团队
经营理念
企业据点
企业社会责任
核心能力
新闻中心
最新消息
展览
新聞
产品总览
产品与服务
设备产品
LED测试系统
整合型LED晶粒/晶圆点测机
全自动LED晶圆点测机
覆晶型LED晶粒/晶圆点测机
全自动LED覆晶点测机
全自动LED晶粒点测机
全自动高速晶粒分选机
高精度全自动LED晶粒计数机
全自动上下膜机
LD测试系统
激光二极管测试解决方案
边射型激光点测分选机
边射型激光低温点测分选机
VCSEL晶粒点测机
PD晶粒点测机
VCSEL晶粒低温点测机
VCSEL近场点测机
VCSEL远场点测机
VCSEL晶粒点测机
COC/COS测试分选机
激光微细加工系统
全自动激光陶瓷切割机
全自动激光via钻孔加工系统
半自动激光Wafer Marking系统
半自动PCB激光切割钻孔机
全自动激光晶圆刻印系统
全自动双ARM激光Wafer Marking系统
全自动Tray-In激光刻印系统
全自动双激光Strip Marking系统
全自动双激光Strip切割机
6”WLCSP 激光刻印设备
激光除锈清洁系统
认识激光除锈清洁
手持式激光除锈清洁机
激光除锈清洗机
代工服务
二極體點測分選代工
LED 点测分选代工
LD点测分选代工
产业应用
光电及光学相关业
整合型LED晶粒/晶圆点测机
全自动LED晶圆点测机
覆晶型LED晶粒/晶圆点测机
全自动LED覆晶点测机
全自动LED晶粒点测机
全自动高速晶粒分选机
高精度全自动LED晶粒计数机
全自动上下膜机
边射型激光点测分选机
VCSEL晶粒点测机
PD晶粒点测机
VCSEL晶粒低温点测机
VCSEL近场点测机
VCSEL远场点测机
VCSEL晶粒点测机
COC/COS测试分选机
半自动激光Wafer Marking系统
电子零组件业
全自动激光陶瓷切割机
全自动激光via钻孔加工系统
半自动激光Wafer Marking系统
半自动PCB激光切割钻孔机
半导体产业
全自动激光陶瓷切割机
全自动激光via钻孔加工系统
半自动激光Wafer Marking系统
全自动激光晶圆刻印系统
全自动双ARM激光Wafer Marking系统
全自动Tray-In激光刻印系统
全自动双激光Strip Marking系统
全自动双激光Strip切割机
汽车/运输设备及其零组件相关业
手持式激光除锈清洁机
激光除锈清洗机
制造相关产业
认识激光除锈清洁
手持式激光除锈清洁机
激光除锈清洗机
联络我们
0
简体中文
English
繁體中文
简体中文
日本語
送出
整合型LED晶粒/晶圆点测机
首页
产品总览
产品与服务
设备产品
LED测试系统
整合型LED晶粒/晶圆点测机
APT 7000
整合型LED晶粒/晶圆点测机
LED chip & wafer probing and testing system
Prober & Tester完全整合,效益大幅提升!
积分球直接收光架构及遮光罩设计,杜绝背景光干扰 !
特色
采用进口螺杆,机械刚性强,减少磨耗产生背隙
主动式针座,针痕大小一致,延长探针寿命
录音式警报系统,可依不同状况录制不同语音警示
外型尺寸优化缩小,提高厂房利用率
积分球直接收光架构
可点测Chip Form& Wafer Form
上一个
返回列表
下一个
相关产品
全自动LED晶圆点测机
全自动LED晶粒点测机
全自动高速晶粒分选机