VPT 8090/8890 Series

VCSEL 晶圆点测机

✹ Prober & Tester整合一体机

✹ LIV Curve测试架构

✹ 高机构集成,高测试稳定性

✹ 提供高功率/低功率产品量测

✹ 可搭配温度控制载盘与选配其他配备

✹ 适用4”-6”Wafer检测


       
  • 產業Markets

    光电半导体产业/光通讯产业/3D传感产业

  • 應用Applications

    VCSEL晶圆点测

  • 材料Materials

    面射型激光(VCSEL)


 

VCSEL晶圆点测系统

VCSEL晶圆检测设备专为检测VCSEL晶圆性能而设计,能精确测量VCSEL晶粒的光学和电气特性,确保其在通讯、3D感测等应用中的高性能表现。 VPT系列设备能提供精准的VCSEL量测数据,可依据客户需求进行客制化,整合多种功能以满足不同的应用和测试标准,进一步提升产品质量与稳定性。

 

LIV Curve 测试项目

光性测试项目:Ith、SE、Linearity、Kink、Pmax、Rollover、P1/P2

电性测试项目 :Rs、Imax、V1/V2

 

选配项目



温度控制载盘

 温控范围可依需求选配





OSA

依客户需求选配OSA





清针模组

毛刷、清针贴片清洁





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